010-87681080
010-87681080
產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當(dāng)前位置：首頁
產(chǎn)品中心實驗檢測儀器一鍵式快速測量儀PZ-80W一鍵式影像測量儀
產(chǎn)品簡介
一鍵式影像測量儀取代了傳統(tǒng) X Y 坐標(biāo)臺運動式測量方式， 開創(chuàng)了快速測量的新理念。通過將遠(yuǎn)心成像與智能圖像處理軟件的結(jié)合， 任何繁瑣的測量任務(wù)， 都變得無比簡單。只需把工件放置載物臺， 然后輕輕按一鍵， 工件所有尺寸瞬間完成。
產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
一鍵式影像測量儀基于光學(xué)成像的尺寸測量儀器在制造領(lǐng)域應(yīng)用廣泛，傳統(tǒng)的光學(xué)尺寸測量儀器包括工具顯微鏡、投影儀、影像測量儀（二次元）等，都存在檢測效率低、人為操作誤差、人員技能要求高、數(shù)據(jù)難以信息化等各種問題。
一鍵式影像測量儀特點
穩(wěn)定快速：雙遠(yuǎn)心光路結(jié)合圖像畸變校正、亞像素數(shù)值處理算法，實現(xiàn)高精度、高穩(wěn)定性尺寸測量；精密電動平臺配合可快速更換及實時調(diào)節(jié)的正面照明系統(tǒng)，滿足用戶對復(fù)雜表面尺寸的準(zhǔn)確測量。
光學(xué)畸變校正：在高精度圖像尺寸測量應(yīng)用中，鏡頭畸變校正具重要意義，即使是細(xì)微的畸變，也會造成精度嚴(yán)重滑坡。只有真實的圖像才能真實地反映物體的真實形態(tài)。但是鏡頭畸變是透鏡的固有失真造成的，實際應(yīng)用中，還與鏡頭的精度、質(zhì)量有著種種關(guān)聯(lián)，是不可避免的。通常的鏡頭畸變主要為非線性畸變，包括了徑向畸變和切向畸變。常見的桶形畸變和枕型畸變正是由徑向畸變所造成的。而切向畸變是理想點沿著切線方向發(fā)生變化導(dǎo)致的，也可以理解為角度方向上的變化。因此，本產(chǎn)品對基于非線性技術(shù)的光學(xué)系統(tǒng)畸變校正算法進(jìn)行了研究，以提高測量精度以及測量效率。將非線性畸變參數(shù)作為相機(jī)的內(nèi)部參數(shù)之一，通過對初值的獲取，聯(lián)合其他的內(nèi)部參數(shù)一并在非線性深度優(yōu)化求解過程中獲得。終利用得到的誤差補(bǔ)償函數(shù)的系數(shù)矩陣和徑向畸變參數(shù)，實現(xiàn)鏡頭畸變的誤差校正，有效改善了鏡頭畸變造成的檢測誤差，滿足工業(yè)測量過程中的實時性和高精度要求。
技術(shù)參數(shù)
測量范圍(mm)：180×150。
調(diào)焦行程（mm）：50。
測量精度（μm）：±10。
重復(fù)精度（μm）：±4。
景深（mm）：300
光學(xué)系統(tǒng)：500萬像素CCD；雙遠(yuǎn)心工業(yè)鏡頭； 遠(yuǎn)心平行背光源、LED環(huán)形正面光源。
軟件：快速閃測Easson軟件。
接口：GigE ×1（雙視野型號×2），RS 232 ×1，及其他可擴(kuò)展接口。
電源：AC 220V，50Hz。
工作環(huán)境：溫度15-25℃；濕度30%-80%；振動<0.002g, 15Hz。
檢查庫
圍繞工藝的環(huán)境產(chǎn)生消極影響，必須通過幾個途徑降低到小，以滿足頭工作的要求。
● AOI檢查庫──對部分AOI制造商的標(biāo)定工具進(jìn)行調(diào)整是極為重要的，所以，這些變化能夠傳遞到照相機(jī)和照明模塊上。
● 對于不同產(chǎn)品的AOI檢查庫，有可能在當(dāng)?shù)剡M(jìn)行調(diào)整──這是AOI軟件*的特性。
● 貼片公差——進(jìn)料器常規(guī)的維護(hù)和校準(zhǔn)。
● 確定檢查質(zhì)量：IPC標(biāo)準(zhǔn)2級——必須允許使用朝下的電阻器。組件趐起和共面性的檢測必須可靠。
關(guān)于元件長度公差，不同的組件供應(yīng)商、電路板和無鉛焊料的供應(yīng)商都不可能沒有任何直接的影響。AOI程序應(yīng)該能夠應(yīng)付這些這影響。如果這些個別點的變化可以保持不變，那么就能夠相當(dāng)大地簡化AOI編程。經(jīng)研究得到的結(jié)論是，由于無鉛產(chǎn)生的影響，圖形對照系統(tǒng)無法得到適合的檢查結(jié)果，這是因為合格的樣品變化太大。更加可行的方法是，取出確定每道工藝和元件變化的特性。這些變化可以分成不同的等級。如果在現(xiàn)在使用的工藝中，出現(xiàn)了一個新的變化，就要增加一個級別，來保證檢查的性。所有認(rèn)識到的和已知的缺陷都儲存起來，他們的類型和圖片可以用于AOI系統(tǒng)和數(shù)據(jù)庫里的檢查程序。我們沒有必要把一塊不同缺陷的電路板保存起來用于詳細(xì)的檢查。
Copyright © 2024北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司 All Rights Reserved 備案號：京ICP備19005501號-1
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng)
管理登錄 sitemap.xml
上一個：
返回列表